LB-820 УК-Vis NIR спектрофотометрі

Аспаптың ерекшеліктері

Қос сәулелі оптикалық жүйенің дизайны фондық кедергілерді азайтады және сынақ дәлдігін жақсартады.

Аспаптың қабылдағыш бөліктерінің барлығы импортталған құрылғылар болып табылады, бұл аспаптың жоғары өнімділігі мен тұрақтылығын қамтамасыз етеді.

Құралды басқару (мысалы, торды түрлендіру, сүзгіні түрлендіру, қабылдағышты түрлендіру, толқын ұзындығын сканерлеу және т.б.) компьютер арқылы басқарылады, ал интерфейсі USB2.0 болып табылады. Құралды қосу қарапайым, бұл байланыс жылдамдығын айтарлықтай жақсартады.

Кіріктірілген оптикалық сынақ жүйесінің бағдарламалық жасақтамасын ғимарат әйнегінің көрінетін жарық өткізгіштігін, тікелей күн сәулесінің өткізгіштігін, тікелей күн сәулесінің шағылысуын және басқа да байланысты параметрлерін автоматты түрде анықтау үшін таңдауға болады.

Күн энергиясының жалпы өткізгіштігі және әр түрлі терезе әйнегінің компоненттерінің күн радиациясының жылуынан қорғану коэффициентін шыны жарты шар тәрізді сәулелену детекторымен бірлесіп жұмыс істеу арқылы алуға болады.

Арнайы үлгі сынақ аксессуарларын таңдауға болады.

Бағдарламалық жасақтама деректерді мәтіндік форматта импорттай алатын импорттау функциясын орнатады.

Үлгі деректерін нақты уақыт режимінде өлшеу, сынақ нәтижесі деректерін экспорттауға болады.

Бағдарлама WinXP және win7 жүйелерінде жұмыс істей алады.

Техникалық сипаттама параметрлері

1. Жарық көзі: импортталған дейтерий шамы, вольфрам бромид шамы

2. Толқын ұзындығының диапазоны (нм): 190-3200нм

3. Толқын ұзындығының дәлдігі (нм): ± 0,5 (УК / ВИС); ± 4 (NIR)

4. Толқын ұзындығының қайталануы (нм): ≤ 0,3 (УК / ВИС); ≤ 2 (NIR)

5. Өткізу қабілеттілігі (нм): 0,2-5 (УК-көрініс), 1-20 (NIR)

6. Өткізу дәлдігі (% t): ± 0,3

7. Трансмиссияның меншікті салмағын қайта бүктеу (% t): ≤ 0,2

8. Шашыраңқы жарық (% t): ≤ 0,2% t (220 нм, NAI)

9. Жұмыс режимі: өткізгіштік, сіңіру, шағылыстыру, энергия

10. Бағдарламалық жасақтама функциясы: тұтынушылардың қалауы бойынша, сынақ үлгісінің өткізгіштігін, сіңірілуін және абсолютті шағылысуын өлшеу үшін тиісті сынақ интерфейсінің функциясын теңшеуге болады.

11. Іріктеу аралығы: 0,1 нм, 0,2 нм, 0,5 нм, 1 нм, 1,5 нм, 2 нм, 5 нм, 10 нм

12. Фотометриялық диапазон: 0 ~ 2,5A

13. Бастапқы жазықтығы: ± 0,004a (200-2500нм, 30 минут алдын ала қыздырғаннан кейін)

14. Хост интерфейсі: USB2.0

15. Өлшемі (мм): (пішіні) 830 * 600 * 260, (үлгі бөлмесі) 120 * 240 * 200

16. Сынақ үлгісінің сипаттамасы (мм): 30 ~ 110, қалыңдығы ≤ 20

17. Салмағы (кг): шамамен 65

18. Негізгі конфигурация:

UV Vis NIR спектрометрінің хосты, USB деректер кабелі, кварц кюветасы, нөлдік блок, қолданбалы бағдарламалық жасақтама, қолдаушы құралдар және т.б. (қатты керек-жарақтар мен сұйық керек-жарақтар жиынтығы стандартты болып табылады)

Шыныға арналған кешенді оптикалық сынақ жүйесінің бағдарламалық жасақтамасы міндетті емес

*Пайдаланушылар өздерінің компьютерлері мен принтерлерін ұсынуы керек

Таңдауұлттық аксессуарлар

Zf820-1 интеграциялаушы сфералық аксессуарлар

Диаметрі Φ 60 мм, 380-2500 нм қос детекторлар

Zf820-2 қатты үлгіні өлшеуге арналған керек-жарақтар

Қысқыш линзаның диапазоны: диаметрі: Φ 10-36 мм; қалыңдығы: 0,5-10 мм

Zf820-3 шағылысу өлшеу құралы

Түсу бұрышы 5 градус, ал шағылу спектрі өлшенеді

Бағдарламалық жасақтама

Аспаптың жұмыс бағдарламалық жасақтамасы өткізгіштікті, сіңіруді, энергияны және шағылыстыруды өлшей алатын бай сынақ және талдау функцияларына ие. Ол спектрді сканерлеу, бекітілген нүктелі өлшеу және көп толқын ұзындығын өлшеу функцияларына ие.